在《178：技術(shù)流失》一章中，橙子寫到：某國(guó)為了竊取中國(guó)的某項(xiàng)陶瓷工藝，以行騙的手段，索取了一些煙囪里的灰塵，通過電子顯微鏡分析陶瓷的燒結(jié)工藝。這個(gè)故事是橙子某一次聽業(yè)內(nèi)的朋友說起的，故事好像是發(fā)生在洛陽。
　　對(duì)于這個(gè)故事的細(xì)節(jié)，作為文科生的橙子并不了解，寫書里加以了虛構(gòu)，出現(xiàn)若干專業(yè)上的漏洞。對(duì)此，“zxz026”和“娜迪雅”兩位書友予以了善意的批評(píng)，在此將兩位書友的意見轉(zhuǎn)錄如下，供大家參考，以免大家受橙子誤導(dǎo)。
　　并對(duì)兩位書友表示衷心的感謝。
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　　“zxz026”書友指出：
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　　1、電鏡最主要的兩種是掃描電鏡（sem）和透射電鏡（tem）。
　　后者要求樣品制成薄片，灰塵顆粒是沒法測(cè)試的。
　　前者主要用于觀察固體形貌，可以觀察粉末，但也需要一定的量，一顆50微米的顆粒還是不夠的。雖然具體觀察時(shí)，視野中的顆�？梢赃h(yuǎn)比50微米更小，一樣可以看得清，但如果直接只有1個(gè)50微米的顆粒，幾乎不可能制樣并在電鏡下找到樣品。我做的納米w粉，粒徑不過幾百納米，但還是要用一小挖耳勺那么多的粉末制樣。
　　所以，日本人要一瓶當(dāng)然夠了，小林說1個(gè)顆粒就可以卻不符合事實(shí)了。
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　　2、現(xiàn)在的sem自帶能譜掃描，可以知道有哪些元素，80年代初期，電鏡也遠(yuǎn)不夠先進(jìn)，我不太確定是否有能譜功能。
　　當(dāng)然，配合x射線衍射（xrd）和x射線光電能譜（xps）還是可以進(jìn)行元素分析的，連元素價(jià)態(tài)都能知道，不過這屬于作者后面提及的“光譜分析”范疇的功能，不是電鏡本身的。
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　　3材料表征對(duì)工藝制備有巨大幫助是無疑的，但一般只能起到粗略分析和表征控制的作用，不能直接反推工藝，尤其是具體參數(shù)。
　　比如我們實(shí)驗(yàn)室燒結(jié)鎢鈧海綿體，即使以當(dāng)今的技術(shù)水平，老外也不可能看看sem、做做xps、甚至加上其他表面分析如aes等，就直接知道工藝——但他們能通過這個(gè)測(cè)試知道該做到什么程度是好的，一個(gè)好的產(chǎn)品應(yīng)該有怎樣的微觀結(jié)構(gòu)。比如在電鏡里看到晶粒大小是600nm，他就知道，原來要600nm的晶粒才行，但到底怎么做到晶粒600nm，控制怎樣的工藝參數(shù)（比如燒結(jié)溫度是多少、保溫時(shí)間該多長(zhǎng)等等）能做到，還是要考自己摸索。